高精度3D激光测量系统
Delph系列
Delph系列高精度3D激光测量系统采用非接触光学测量原理,通过光栅投影的方式实现点云获取,搭载机器人、导轨、转台等运动机构实现大范围柔性测量,高密度点云测量,真实还原物体的丰富表面细节。3D激光测量系统因其效率高、精度高、数据量大、成本低、环境要求低等特点。可实现物体形状测量,如高度差、宽度、角度、半径等测量。通过移动物体实现3D扫描,并可以保存为点云文件。
详情内容
软件界面
产品特点
最高1280测量点每扫描线
测量重复精度最高0.2 μm
通过千兆以太网数据传输
位置补正消除倾斜误差
638nm红色激光,IP67防护等级,可检测玻璃和高反光材料
产品应用
应用场景:模型与实物对比检测误差;检测表面的平面度,凹凸缺陷;计算体积,某个高度下的面积;凸起OCR识别等