高精度3D激光测量系统

Delph系列

Delph系列高精度3D激光测量系统采用非接触光学测量原理,通过光栅投影的方式实现点云获取,搭载机器人、导轨、转台等运动机构实现大范围柔性测量,高密度点云测量,真实还原物体的丰富表面细节。3D激光测量系统因其效率高、精度高、数据量大、成本低、环境要求低等特点。可实现物体形状测量,如高度差、宽度、角度、半径等测量。通过移动物体实现3D扫描,并可以保存为点云文件。

详情内容


软件界面








产品特点




  • 最高1280测量点每扫描线


  • 测量重复精度最高0.2 μm


  • 通过千兆以太网数据传输


  • 位置补正消除倾斜误差


  • 638nm红色激光,IP67防护等级,可检测玻璃和高反光材料



产品应用



应用场景:模型与实物对比检测误差;检测表面的平面度,凹凸缺陷;计算体积,某个高度下的面积;凸起OCR识别